纳米力学测试系统Agilent Nano Indenter G200

主要功能:
纳米/显微尺度的仪器化压入和划入,主要用于测试小块或薄膜样品的弹性模量和压入硬度、薄膜临界附着力和摩擦系数等。具有连续刚度测试模式、原位压痕形貌扫描、刚度扫描和快速压入测试等功能。
主要特色:

(1) 多方式”:经典简单加载 / 动态连续刚度。

(2) 多功能”:压入 / 划入。

(3) 多尺度”:纳米 / 微米。

技术指标:

(1) 压入载荷量程:XP, 500mNDCM II, 30mN High Load, 10N

(2) 压入载荷分辨力:XP, 50nNDCM II, 3nN High Load, 1mN

(3) Z向位移分辨力:XP, 0.01nmDCM II, 0.0002nm High Load, 0.01nm

(4) 横向载荷量程:250mN

(5) 横向载荷分辨力:2μN

(6) X-Y平面扫描范围:Survey Scanning, 500μm×500μmNanoVision, 100μm×100μm

试样建议

(1) 类型I – 薄片:水平尺寸5mm×5mm~20mm×20mm,厚度0.5mm~6mm

(2) 类型II – 圆柱:直径Φ31mm,厚度20mm~25mm,通常为镶样。

(3) 表面质量:待测表面为光滑表面(Ra<10nm)或超光滑表面(Ra<1nm)

典型应用场景

  纳米压入           纳米划入

联系方式
联系人: 冯义辉
电子邮件:fengyh@lnm.imech.ac.cn
联系电话:010-82543951


 
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