场发射高分辨透射电镜

 
主要功能及应用:

用于观察高分辨像、形貌像、衍射谱及STEM明暗场像,进行材料的结构及缺陷结构分析;

配合能谱仪进行材料的微区成分分析;

配合Hysitron Pi95原位力学测试平台,进行透射电镜中的原位力学实验,最大载荷1.5mN,载荷灵敏度<200nN,位移灵敏度<1nm,可同步获得力学信息及形貌、结构变化信息,为揭示材料的变形机制提供有力的信息。

技术指标:

点分辨率:0.23 nm,线分辨率:0.1 nm

样品移动范围:XY±2mm Z±0.2mm

样品倾转角度:α±35°,β±30°

附件:

STEM明暗场相(线分辨率:0.2nm);

能谱OxfordX-MaxN 80T,测量Be4~Pu94号元素;

Hysitron Pi95 原位力学实验平台。

另外配置了透射电镜制样设备离子减薄仪Gatan PIPS 695和凹坑仪Gatan 656

联系方式
联系人:  周玲玲  
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